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J-GLOBAL ID：200903029750968230

特徴量選択装置、異常陰影判別装置およびプログラム

Inventor：
武尾 英哉

About 武尾 英哉


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004070020
Publication number (International publication number)：2005253708
Application date： Mar. 12, 2004
Publication date： Sep. 22, 2005
Summary：
【課題】 異常陰影の判別を行う際、学習した範囲から外れたデータに対しても安定した判別性能が得られるようにする。【解決手段】 医用画像より抽出された異常陰影であると判別されている関心領域の画像情報と、医用画像より抽出された正常陰影であると判別されている関心領域の画像情報とを予め記憶する。関心領域が異常陰影のクラスであるか正常陰影のクラスであるかを判別する多数の特徴量の中から複数の特徴量を選択して組み合わせた複数の特徴量セットを用いて、関心領域を異常陰影のクラスと正常陰影のクラスとに判別するサポートベクターマシンの分離平面Hを求め、分離平面Hと判別されている関心領域とのマージンDが最大になる特徴量セットを判別に最適な最適特徴量セットとする。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
医用画像より抽出された異常陰影であると判別されている関心領域の画像情報と、医用画像より抽出された正常陰影であると判別されている関心領域の画像情報とを予め記憶する記憶手段と、 医用画像より抽出された関心領域が異常陰影のクラスであるか正常陰影のクラスであるかを判別する多数の特徴量の中から複数の特徴量を選択して組み合わせた複数の特徴量セットを用いて、各特徴量セットごとに、前記判別されている関心領域の画像情報に基づき、該関心領域を異常陰影のクラスと正常陰影のクラスとに判別するサポートベクターマシンの分離平面を求めると共に、該分離平面と前記判別されている関心領域とのマージンを求め、該マージンが最大になる特徴量セットを判別に最適な最適特徴量セットとする最適特徴量セット取得手段とを備えたことを特徴とする特徴量選択装置。
IPC (2)：
A61B6/00 ,  G06T7/00
FI (2)：
A61B6/00 350D ,  G06T7/00 300F
F-Term (16)：
4C093AA26 ,  4C093CA31 ,  4C093FF17 ,  4C093FF20 ,  4C093FF28 ,  5L096BA06 ,  5L096BA13 ,  5L096FA06 ,  5L096FA14 ,  5L096FA32 ,  5L096FA33 ,  5L096FA58 ,  5L096FA59 ,  5L096FA60 ,  5L096FA66 ,  5L096FA81
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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