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J-GLOBAL ID:200903029921844780

化学分析方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 渡辺 徳廣
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002210214
Publication number (International publication number):2004053371
Application date: Jul. 18, 2002
Publication date: Feb. 19, 2004
Summary:
【課題】外部に別に設置した濃縮装置を用いることなく、装置内部で液体試料を、不純物による汚染を低減して濃縮することが可能な化学分析方法を提供する。【解決手段】基板上に液槽、流路、流体制御素子および検出素子を有し、前記基板上で液体試料を用いて化学分析および化学合成を行う化学分析方法において、前記液体試料を発熱体素子により加熱して溶媒を蒸発させることにより濃縮する化学分析方法。発熱体素子は液槽内または流路内に設けられている。前記発熱体素子を有する液槽もしくは流路を構成する面の一部もしくは全部が気体成分が透過可能で、液体成分が透過不可能な材質で形成されている。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
基板上に液槽、流路、流体制御素子および検出素子を有し、前記基板上で液体試料を用いて化学分析および化学合成を行う化学分析方法において、前記液体試料を発熱体素子により加熱して溶媒を蒸発させることにより濃縮することを特徴とする化学分析方法。
IPC (2):
G01N37/00 ,  G01N1/36
FI (2):
G01N37/00 101 ,  G01N1/28 Z
F-Term (19):
2G052AD26 ,  2G052AD46 ,  2G052CA03 ,  2G052CA04 ,  2G052CA12 ,  2G052EA03 ,  2G052EB01 ,  2G052EB11 ,  2G052ED01 ,  2G052ED03 ,  2G052ED14 ,  2G052FB03 ,  2G052GA11 ,  2G052GA21 ,  2G052GA27 ,  2G052HC03 ,  2G052HC06 ,  2G052JA13 ,  2G052JA16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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