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J-GLOBAL ID：200903029992008869

標識抗体粒子及びそれを用いた測定装置

Inventor： 中山 浩 ,  宮崎 仁誠
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996291435
Publication number (International publication number)：1998132817
Application date： Nov. 01, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】 粒子に結合した抗体のアビィディティを失うことなく、任意の色を持った標識抗体粒子を用いて高い判定能力を有する測定装置を提供する。また、2種類以上の上記標識抗体粒子を用いて2種類以上の測定対象物を同時に測定可能な測定装置を提供する。【解決手段】 抗体に粒子状でない標識物を標識した後、粒子に結合することを特徴とする標識抗体粒子作製方法、あるいは抗体に粒子を結合した後、粒子状でない標識物を粒子結合抗体んい標識することを特徴とする標識抗体粒子作製方法を利用して粒子状でない標識物を標識した抗体を粒子に結合させたことを特徴とする標識抗体粒子を作製する。また、このようにして作製した標識抗体粒子を利用して単独あるいは多種の測定対象物を測定できる装置を作製した。

Claim (excerpt)：

粒子状でない標識物を標識した抗体を粒子に結合させたことを特徴とする標識抗体粒子。

IPC (3)：

G01N 33/532 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/543 541

FI (4)：

G01N 33/532 A ,  G01N 33/53 C ,  G01N 33/53 B ,  G01N 33/543 541 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 抗原、抗体検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-292545   Applicant：ティーディーケイ株式会社, 松永是
• 免疫学的検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-163317   Applicant：わかもと製薬株式会社
• 高分子の微粒子および調製法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平6-520171   Applicant：ミドルセツクス・サイエンシーズ・インコーポレーテツド