Pat
J-GLOBAL ID:200903030394477674
不良再発防止装置、不良再発防止方法、プログラムおよび記録媒体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
西教 圭一郎
, 杉山 毅至
, 廣瀬 峰太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004186848
Publication number (International publication number):2006011744
Application date: Jun. 24, 2004
Publication date: Jan. 12, 2006
Summary:
【課題】 対策を実施する際に不具合の解消方法を実施状況と併せて蓄積して解消方法の見直しや改善を行なうことによって、評価項目やチェックポイントの追加や改善を短期間で行なうことができる不良再発防止装置を提供する。【解決手段】 抽出機能部12は、データベース群30に保存されている情報を取得して品質情報DB11に保存し、保存した情報から不良が発生する可能性が高い部品または原因を特定する。表示機能部13は、抽出機能部12で特定された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置20に送信して表示する。確認機能部14は、端末装置20から送信された確認結果、たとえば、特定された部品または原因に対応する解消方法の実施状況などの確認結果を品質情報DB11に保存し、更新機能部15は、端末装置20から送信された解消方法の追加情報を品質情報DB11に保存する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第1の解消情報とを含む品質情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定する特定手段と、
前記特定手段で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第1の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する表示手段と、
前記表示手段によって表示された不良要因および第1の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第2の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶手段で記憶された品質情報に追加する追加更新手段と、
製品設計の所定の段階で、前記第2の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第2の解消情報が前記第2の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する確認手段とを含んで構成されることを特徴とする不良再発防止装置。
IPC (2):
FI (4):
G06F17/50 612Z
, G06F17/50 612C
, G06F17/50 614A
, G06F17/60 174
F-Term (3):
5B046AA00
, 5B046JA01
, 5B046KA05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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特許第2985505号公報
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特許第2987032号公報
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品質問題フォロー方法およびシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-388689
Applicant:富士通テン株式会社
Cited by examiner (2)
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設計支援方法および設計支援システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-080290
Applicant:株式会社日立製作所
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設計履歴を考慮した事例ベース推論システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-287165
Applicant:積水化学工業株式会社
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