品質問題フォロー方法およびシステム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西教圭一郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001388689
Publication number (International publication number)：2003187069
Application date： Dec. 21, 2001
Publication date： Jul. 04, 2003
Summary：

【要約】【課題】一度発生した不具合は二度と発生させないように支援する。【解決手段】品質問題フォローシステムは、問題解決の手順が確実かつ円滑に進行するように、関係部門の担当者を支援する。修理・解析系システムやD/R部門からは不具合発生に伴って問題提起を受け、提起された問題についてのコントロールを行う。対策検討が行われるときの対策内容、および設計に対する変更指示がなされるときの変更指示の内容をデータベースに登録して保存し、対策状況の確認を行う。設計の変更実施後は、実施状況をデータベースに登録して保存し、トレーサビリティの向上を図る。効果確認後は、対策効果をデータベースに登録して保存する。問題解決の歯止めが標準化され、D/R部門での事前チェックのためのチェックリストに反映される。

Claim (excerpt)：

製品の生産現場や市場で発生する品質問題を調査して解析し、対策を行う品質問題フォロー方法であって、生産現場や市場を複数の工程または場面に区分し、各区分毎に発生する不具合の報告を受け、複数の不具合を表現する報告形態から共通項目を抽出し、各不具合を共通項目に対応して設定される問題単位に分類して集約し、登録しておき、各問題単位毎に、品質問題を解析し、対策および歯止めを、予め設定されるワークフローに従って、対策担当者に指示することを特徴とする品質問題フォロー方法。

IPC (2)：

G06F 17/60 174 , G06F 17/60 108

FI (2)：

G06F 17/60 174 , G06F 17/60 108

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

品質情報診断解析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-132196 Applicant：株式会社日立製作所
製品設計仕様評価システム及び製品設計仕様評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-229054 Applicant：株式会社日立製作所
特開平4-211860

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