半導体装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：作田康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002016320
Publication number (International publication number)：2003085996
Application date： Jan. 25, 2002
Publication date： Mar. 20, 2003
Summary：

【要約】【課題】エラー訂正を行うためECC回路により、面積および消費電力、アクセス時間が増大していた。【解決手段】複数のメモリマットと、メモリセルの読み出しデータおよび書き込みデータを転送するワード線方向に平行に形成されるローカルバスと、書き込みデータを出力パッドIOから転送するデータ線に平行な書き込み用グローバルバスと、読み出しデータを入力パッドIOに転送するデータ線に平行な読み出し用グローバルバスと、グローバルバスとローカルバスの交点に置かれた少なくとも1つ以上のエラー訂正回路を具備してなり、読み出しと書き込みが1サイクルで終了し、書き込み動作時に一度読み出されるデータと異なる値のデータの書き込み動作を行う。【効果】本発明によれば、面積および消費電力の増加を抑え、ソフトエラー等によるエラーを訂正する事ができる。

Claim (excerpt)：

複数のメモリセルと、エラー訂正回路とを具備してなり、読み出しと書き込みが1サイクルで終了する半導体装置。

IPC (4)：

G11C 29/00 631 , G11C 29/00 603 , G06F 12/16 320 , G11C 11/413

FI (5)：

G11C 29/00 631 D , G11C 29/00 603 F , G06F 12/16 320 A , G11C 11/34 341 Z , G11C 11/34 341 C

F-Term (27)：

5B015HH01 , 5B015HH03 , 5B015JJ03 , 5B015JJ13 , 5B015JJ31 , 5B015KB91 , 5B015KB92 , 5B015MM02 , 5B015MM04 , 5B015NN09 , 5B015PP01 , 5B015PP02 , 5B018GA02 , 5B018HA16 , 5B018NA03 , 5B018RA01 , 5B018RA04 , 5L106AA02 , 5L106BB02 , 5L106BB12 , 5L106CC01 , 5L106CC13 , 5L106CC17 , 5L106CC21 , 5L106CC32 , 5L106DD12 , 5L106GG05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

特公昭57-046158
特許第3070025号
特開昭62-214599

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