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J-GLOBAL ID：200903030451543484

軌道狂い計測方法およびその方法に用いられる軌道狂い計測システム

Inventor：
生駒 昇

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横尾 正幸

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今 一樹

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蜂須賀 義文

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Applicant, Patent owner：
ジェイアール西日本コンサルタンツ株式会社

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株式会社横河ブリッジ

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綜合計測株式会社

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Agent (1)： 杉村 興作
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002210328
Publication number (International publication number)：2004053374
Application date： Jul. 19, 2002
Publication date： Feb. 19, 2004
Summary：
【課題】軌道狂いを自動計測でき、軌道に対する負荷が少なく設置費用も低コストで済み、異常値が発生した場合等に現地の画像を遠隔地から確認でき、しかも高い計測精度を確保できるようにすることにある。【解決手段】軌道狂い計測対象区間の軌道Rにあらかじめ複数個の標識1をその軌道の延在方向に沿って所定間隔を空けて取り付け、前記複数個の標識が全て一画像中に入るように前記計測対象区間の軌道の延在方向に対し斜め方向に光軸を向けて設置したデジタルカメラ3によって前記複数個の標識の全てを所定時間間隔で撮像し、現場パソコン9で、先ず、前記撮像した画像上での前記複数個の標識の位置と、別途計測したそれらの標識の所定計測座標系での位置との対応関係を求め、次いで、前記所定時間間隔で撮像した画像上での前記複数個の標識の位置から前記対応関係を用いてそれらの標識の前記所定計測座標系での位置をそれぞれ求め、前記求めた複数個の標識の前記所定計測座標系での位置の相対的な位置ずれ量から軌道狂いを求めることを特徴とする軌道狂い計測方法である。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
軌道狂い計測対象区間の軌道にあらかじめ複数個の標識をその軌道の延在方向に沿って所定間隔を空けて取り付け、 前記複数個の標識が全て一画像中に入るように前記計測対象区間の軌道の延在方向に対し斜め方向に光軸を向けて設置した電子式撮像手段によって前記複数個の標識の全てを所定時間間隔で撮像し、 先ず、前記撮像した画像上での前記複数個の標識の位置と、別途計測したそれらの標識の所定計測座標系での位置との対応関係を求め、 次いで、前記所定時間間隔で撮像した画像上での前記複数個の標識の位置から前記対応関係を用いてそれらの標識の前記所定計測座標系での位置をそれぞれ求め、 前記求めた複数個の標識の前記所定計測座標系での位置の相対的な位置ずれ量から軌道狂いを求めることを特徴とする、軌道狂い計測方法。
IPC (4)：
G01C11/06 ,  G01C7/06 ,  G06T1/00 ,  G06T7/60
FI (4)：
G01C11/06 ,  G01C7/06 ,  G06T1/00 330Z ,  G06T7/60 150B
F-Term (21)：
5B057AA16 ,  5B057AA19 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC05 ,  5B057DC06 ,  5B057DC08 ,  5B057DC33 ,  5B057DC36 ,  5L096BA02 ,  5L096CA04 ,  5L096EA27 ,  5L096FA26 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA32 ,  5L096HA07 ,  5L096JA11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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