Pat
J-GLOBAL ID:200903023686647744

トンネル坑内の写真測量方法及びトンネル坑内の写真測量システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 間山 進也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999305378
Publication number (International publication number):2001124546
Application date: Oct. 27, 1999
Publication date: May. 11, 2001
Summary:
【要約】【課題】 トンネル坑内の写真測量を迅速、容易、かつ高精度に行うことを可能とするするトンネル坑内の写真測量方法及び写真測量システムを提供する。【解決手段】 所定間隔内において配置された光学的に区別可能なターゲットTopを含む複数のターゲットTをトンネル坑内の内壁1に配置し、トンネル坑内を角度を変えて撮影して光学的に区別可能なターゲットTopの像を含む複数の画像を撮影し、撮影された画像に含まれる光学的に区別可能なターゲット像を共通基準点として各ターゲットTの3次元座標を算出することを特徴とする。
Claim (excerpt):
トンネル坑内を写真測量するための写真測量方法であって、該方法は、所定間隔において配置される光学的に区別可能なターゲットを含む複数のターゲットを前記トンネル坑内の内壁に配置し、前記トンネル坑内を角度を変えて撮影して前記光学的に区別可能なターゲットの像を含む複数の画像を撮影し、撮影された前記画像に含まれる光学的に区別可能なターゲット像を共通基準点として前記各ターゲットの3次元座標を算出することにより、前記トンネル坑内の測量を行うことを特徴とするトンネル坑内の写真測量方法。
IPC (4):
G01C 7/06 ,  E21D 9/00 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/06
FI (4):
G01C 7/06 ,  E21D 9/00 Z ,  G01C 15/00 A ,  G01C 15/06 T
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
Show all
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page