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J-GLOBAL ID：200903030601024677

粒子分析装置及び複数の焦点位置を有するレンズ要素を一体化した複合レンズ

Inventor： 山崎 真雄 ,  永井 豊 ,  土屋 勝寛 ,  高原 良之
Applicant, Patent owner： 日本分光株式会社 ,  日本光電工業株式会社
Agent (1)： 松井 伸一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998076442
Publication number (International publication number)：1999023447
Application date： Mar. 11, 1998
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【目的】 複合レンズの位置決めができ、異なる散乱角度の光を分離できる粒子分析装置を提供すること【構成】 レーザー光源1から出射された光の光路上にフローセル2,複合レンズ15,第1〜第3検出器16〜18の順に配置する。複合レンズは、凸レンズ15aと、レンズ要素15b,15cからなり、各レンズの焦点距離の長さは異なる。複合レンズが正しい姿勢にあると、凸レンズに照射された光は第1検出器に結像するので、複合レンズの位置決めが行える。フローセル内の粒子にレーザー光が照射されると、前方散乱光が発生し、散乱角度の小さい前方小角散乱光は、第1レンズ要素15bに照射され、そこにおいて集光されて第2検出器17に受光される。散乱角度の大きい前方大角散乱光は、最外周の第2レンズ要素15cに照射され、そこにおいて集光されて複合レンズに最も遠い第3検出器18に受光される。

Claim (excerpt)：

粒子に光を照射することにより発生する散乱光のうち、異なる散乱角度のものを分離して検出することにより前記粒子の分類を行うようにした粒子分析装置において、前記散乱光の光路を遮るようにして配置された、焦点位置の異なる複数のリング状のレンズ要素を同心円上に位置させた状態で一体化された複合レンズと、前記複数のレンズ要素の焦点位置に応じた前記散乱光の結像位置にそれぞれ配置された各散乱角度検出用の検出器と、前記複数の検出器の検出出力に基づいて、前記粒子の分類を行う分析手段とを備えたことを特徴とする粒子分析装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G02B 3/00 ,  G02B 3/08

FI (4)：

G01N 15/14 P ,  G02B 3/00 A ,  G02B 3/00 Z ,  G02B 3/08

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特表平3-505131
  
• レーザ加工装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-052063   Applicant：日本電気株式会社
• 特開昭55-124028
  

Cited by examiner (2)

• 特表平3-505131
  
• レーザ加工装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-052063   Applicant：日本電気株式会社