波長計測装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：森田雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002326860
Publication number (International publication number)：2004163155
Application date： Nov. 11, 2002
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：

【課題】AWG(アレイ導波路格子)15に入射される光の偏波依存性を除くことによりAWG15に入射する光のTE波とTM波とのエネルギー比率を一定にし、波長測定誤差を低減させるようにした波長計測装置を提供する。【解決手段】AWG15の前段にデポラライザ20を接続し、TE波とTM波とのエネルギー比率を一定にした非偏光の入射光が常にAWG15に入射されるようにした波長計測装置とした。これによりAWG15へは常に非偏光の入射光が入射されるため、波長測定誤差を低減させることができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光源からの光が入力される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子(以下、FBGという)が形成され、各FBGの位置における物理量を測定するために波長検出器で各FBGからの反射光の波長を検出する装置であって、波長検出器の前段にデポラライザを直列に接続し、波長検出器にほぼ非偏光の反射光を入射させることを特徴とする波長計測装置。

IPC (2)：

G01K11/12 , G01L1/24

FI (2)：

G01K11/12 F , G01L1/24 A

F-Term (3)：

2F056VF02 , 2F056VF09 , 2F056VF11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

物理量測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-352249 Applicant：富士電機株式会社
波長モニタ装置および光製品
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-006679 Applicant：住友電気工業株式会社
ファイバ型光センサ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-576239 Applicant：ユニヴァーシティ・オブ・サウザンプトン

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