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J-GLOBAL ID：200903051017952942

物理量測定システム

Inventor：
佐野 安一

About 佐野 安一


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998352249
Publication number (International publication number)：2000180270
Application date： Dec. 11, 1998
Publication date： Jun. 30, 2000
Summary：
【要約】【課題】 波長検出部の機械的な可動部分を不要にし、製造コストの低減、歩留まりの向上を図る。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における温度や歪み等の物理量を測定する物理量測定システムに関する。各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、その複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて反射光の波長を測定する。
Claim (excerpt)：
測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定することを特徴とする物理量測定システム。
F-Term (3)：
2F056VF09 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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