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J-GLOBAL ID:200903031091835116
容器口天面の欠陥検査装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995284500
Publication number (International publication number):1997101128
Application date: Oct. 05, 1995
Publication date: Apr. 15, 1997
Summary:
【要約】【目的】ガラス壜等の容器の開口天部内周に発生する微細なかみ出しや段差について、その良・不良を精度良く判定するとともに、良・不良にかかわらずその状態を計測し、それらのデータをモニターなどに表示することができ、しかも簡単な構成で取扱が容易な容器口天面の欠陥検査装置を提供すること。【構成】容器の開口天部内周へ投光する光源、反射光を受光する一次元カメラ、得られた明線の画像をアナログのビデオ波形に変換する手段、該ビデオ波形から欠陥の高さや長さを計算し計測する手段、しきい値と比較して良否を判定する手段と不良排出手段とからなり、更に、前記計測データを表示する手段と外部出力する手段で構成される。
Claim (excerpt):
容器の垂直軸を中心に回転させる手段と、該容器の開口天面内側に投光できる光源と、その反射光を受光する一次元カメラと、該一次元カメラが捕らえた明線の画像をアナログ量のビデオ波形に変換する手段と、該ビデオ波形から所定以上のパルスを検出する手段と、検出されるパルス数が2パルスのときにパルス間のギャップのクロックをカウントするとともに2パルス検出する間のスキャン同期信号数をカウントして欠陥の高さと周方向長さを計算する手段と、予め設定されたしきい値と計算結果を比較して良否を判定する手段と、不良と判断したときに排出信号を出力する手段とを有し、前記光源と前記一次元カメラが垂直同一平面内に配置され、容器の開口天面に対する該光源の投光軸角度と反射光の反射軸角度が互いに異なる角度にあることを特徴とする容器口天面の欠陥検査装置。
IPC (2):
FI (2):
G01B 11/30 A
, G01N 21/90 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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実装基板外観検査における不良箇所指示装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-141221
Applicant:日本電気株式会社
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線状物体検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-237471
Applicant:キヤノン株式会社
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ガラス製容器の底部を検査する機械
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-051886
Applicant:エムハート・グラス・マシーナリー・インベストメンツ・インコーポレーテッド
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