Pat
J-GLOBAL ID：200903031128078094
差分走査熱量計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
古谷 栄男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001076887
Publication number (International publication number)：2001330575
Application date： Mar. 16, 2001
Publication date： Nov. 30, 2001
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】差分走査熱量計によりサンプル熱流を正確に算出する。【解決手段】本発明は試料保持皿に蓄えられる熱の影響およびサンプルと基準物間の加熱レートの差を考慮したのものであり、保持皿に関連する熱流およびサンプルと基準物間の加熱レートの差を計算することにより、より正確な熱流測定値を得ることを可能にした。また近傍に位置する熱流による現象を分離する能力である解析能を向上させることを可能とした。
Claim (excerpt)：
センサのベース位置の温度を測定する絶対的な温度計、サンプル位置と前記ベース位置間の差分温度を測定する第一差分温度計、および、基準物位置と前記サンプル位置間の第二差分温度計を備えたセンサ、を有する差分走査熱量計を用いてサンプルに与えられる熱流を算出する方法であって、(a) 前記センサを校正するステップと、(b) 前記差分走査熱量計を動作させるステップと、(c) 前記サンプルに与えられる前記熱流を算出するステップと、を備えたこと、を特徴とするもの。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 25/20 J
, G01K 19/00
Cited by examiner (2)
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熱分析装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-238408
Applicant：セイコー電子工業株式会社
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実部信号成分と虚部信号成分を用いた示差分析のための装置および方法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願平8-500986
Applicant：ザパーキン-エルマーコーポレイション
Article cited by the Patent：
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