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J-GLOBAL ID：200903031134793480

形状計測装置及び足型計測装置

Inventor：
二村 伊久雄

About 二村 伊久雄

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奥田 学

About 奥田 学

, 
柴田 進

About 柴田 進


Applicant, Patent owner：
シーケーディ株式会社

About シーケーディ株式会社


Agent (1)： 富澤 孝 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997263614
Publication number (International publication number)：1999101623
Application date： Sep. 29, 1997
Publication date： Apr. 13, 1999
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】 被測定物および足の略全体の三次元形状が計測できる形状計測装置。【解決手段】 足型計測装置100は、足Fに光線を照射し、その表面にできた光学像を撮像する計測ヘッド7a等と、撮像された画像情報から形状を算出し、座標変換して合成して足Fの合成形状情報を算出する形状演算部30と制御部10とを有する。計測ヘッド7は、足上面部位に向かって光線を照射し、かつこの足上面部位を撮像する甲側計測ヘッド7aと、足裏面部位に向かって光線を照射し、かつこの足裏面部位を撮像する足裏側計測ヘッド7bと、足後面部位に向かって光線を照射し、かつこの足後面部位を撮像するかかと側計測ヘッドの3台とする。
Claim (excerpt)：
被測定物の三次元形状を計測する形状計測装置であって、光線を上記被測定物に照射する光線照射手段、および該光線照射手段に対応し、上記光線により上記被測定物の表面に生じる光学像を撮像する撮像部材、をそれぞれ備え、上記被測定物の形状を複数の方向から計測するように配置された複数組の光線照射撮像手段と、それぞれの上記撮像手段から出力される画像情報を演算処理することにより、光線照射撮像手段毎に形状情報を算出し、これらを座標変換して合成し上記被測定物の合成形状情報を算出する形状演算手段と、を有する形状計測装置。
IPC (3)：
G01B 11/24 101 ,  A43D 1/02 ,  A61B 5/117
FI (3)：
G01B 11/24 101 ,  A43D 1/02 ,  A61B 5/10 320 D
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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