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J-GLOBAL ID：200903032278779283

X線CT装置

Inventor： 廣 川 浩 一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Agent (1)： 西山 春之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995348241
Publication number (International publication number)：1997168536
Application date： Dec. 19, 1995
Publication date： Jun. 30, 1997
Summary：

【要約】【課題】 X線CT装置において、被検体の診断部位の断層像を計測する位置を決定するためのスキャノグラム像に生じるまだら状アーチファクトを除去する。【解決手段】 X線検出器5からの検出信号を数値化した計測データを用いて画像処理を行う画像処理装置9内にて、入力した計測データに対数変換を施す対数変換器15の前段に、上記入力した計測データに対し所定量のバイアス値を加算するバイアス加算器20を設けたものである。これにより、予め所定量の数値データを一率に加算して上記対数変換器15へ入力する計測データが“0”又はマイナスにならないようにすることができる。従って、上記バイアス値が加算された正のデータについて対数変換の処理を行うので、従来のようなまだら状アーチファクトの発生を抑えることができる。

Claim (excerpt)：

天板上に被検体を寝載し該被検体を計測位置へ移動させる被検体テーブルと、上記計測位置の被検体を中心にしてX線管球とX線検出器とが対向配置されると共に上記被検体の周りに回転されX線管球から被検体にX線を放射しこの透過X線をX線検出器で検出するスキャナと、上記X線管球に高電圧を印加する高電圧発生装置と、上記X線管球からのX線の放射を制御するX線制御装置と、上記X線検出器からの検出信号を数値化した計測データを用いて画像処理を行う画像処理装置と、この画像処理装置からの画像信号を画像として表示すると共に操作指令や計測条件を入力する操作卓とを有するX線CT装置において、上記画像処理装置内にて入力した計測データに対数変換を施す対数変換手段の前段に、上記入力した計測データに対し所定量のバイアス値を加算するバイアス加算手段を設けたことを特徴とするX線CT装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 計算機式断層写真法システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-100594   Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ