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J-GLOBAL ID:200903032291508698

磁気記憶装置のフリー層における磁気歪を制御する方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 小川 勝男 ,  木崎 邦彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004315136
Publication number (International publication number):2005167214
Application date: Oct. 29, 2004
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】 磁気記憶装置のフリー層において、磁気歪を制御する方法および装置を開示する。【解決手段】 ピン層610,分離層620,フリー層630を有する磁気記憶装置のフリー層に対し,第一層厚t1を有す第一フリー層632と第2層厚t2を有す第2フリー層634を設ける。磁気抵抗比ΔR/Rを変更せずに所望の磁気歪を得るため第一,第2フリー層632,634のターゲット組成物を変更せずに,相対厚さ値を修正することにより,フリー層630の磁気歪を制御する。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
ピン層を形成し、前記ピン層を覆う分離層を形成し、第1層厚を有す第1フリー層を形成し、第2層厚を有す第2フリー層を形成し、所望の磁気歪を実現するように前記第1層厚と第2層厚との比を選択することを特徴とする磁気記憶装置のフリー層における磁気歪を制御する方法。
IPC (2):
H01L43/08 ,  G11B5/39
FI (2):
H01L43/08 Z ,  G11B5/39
F-Term (3):
5D034BA04 ,  5D034BA05 ,  5D034CA08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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