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J-GLOBAL ID：200903032468419844

磁気計測装置、その組立方法及び修理方法、並びに磁気計測用診断装置

Inventor：
賀戸 久

About 賀戸 久


Applicant, Patent owner：
学校法人金沢工業大学

About 学校法人金沢工業大学


Agent (1)： 北野 好人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995325570
Publication number (International publication number)：1997166654
Application date： Dec. 14, 1995
Publication date： Jun. 24, 1997
Summary：
【要約】【課題】 容器内の開口部を小さくして容器内への侵入熱の総量を低減することができる磁気計測装置、その組立方法及び修理方法、並びに磁気計測用診断装置を提供する。【解決手段】 複数の磁場センサ40が冷却剤と共に冷却用容器12に収納された磁気計測装置である。複数の磁場センサ40が着脱自在に装着されるセンサ支持体26と、複数の磁場センサ40が装着されたセンサ支持体26を、冷却用容器12の計測面に着脱自在に装着する装着手段30、34とを有し、冷却用容器12の開口部の大きさが、センサ支持体26が装着される計測面の大きさよりも小さい。
Claim (excerpt)：
複数の磁場センサが冷却剤と共に冷却用容器に収納された磁気計測装置において、前記複数の磁場センサが着脱自在に装着されるセンサ支持体と、前記複数の磁場センサが装着された前記センサ支持体を、前記冷却用容器の計測面に着脱自在に装着する装着手段とを有し、前記冷却用容器の開口部の大きさが、前記センサ支持体が装着される前記計測面の大きさよりも小さいことを特徴とする磁気計測装置。
IPC (4)：
G01R 33/035 ZAA ,  A61B 5/05 ,  F25D 3/10 ,  H01L 39/04 ZAA
FI (4)：
G01R 33/035 ZAA ,  A61B 5/05 A ,  F25D 3/10 A ,  H01L 39/04 ZAA
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
  • ユニット型磁気センサ用プローブ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-223080   Applicant：工業技術院長, セイコー電子工業株式会社
  • 多チヤンネルプローブ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-186497   Applicant：セイコー電子工業株式会社
  • 脳磁界計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-131254   Applicant：理化学研究所
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