干渉計

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：志賀正武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995034145
Publication number (International publication number)：1996226855
Application date： Feb. 22, 1995
Publication date： Sep. 03, 1996
Summary：

【要約】【目的】通常の半導体レーザの動作領域である比較的小さな光量を用いて、検出感度を向上させることができる干渉計を提供する。【構成】マスターレーザ1の出力光をビームスプリッタ4で分岐し、一方の光に位相検出センサー5で被測定量に応じた微少な位相変化を与え、他方の光に位相器6で所定の位相変化を与える。そして、これらの光を注入光としてスレーブ半導体レーザ11、12を注入同期状態で発振させ、その出力をビームスプリッタ17で合波する。ただし、スレーブ半導体レーザ11、12の注入電流は定電流制御され、各出力光は振幅スクィーズド状態で発振する。そして、ビームスプリッタ3で分岐した光を局部発振光として、ビームスプリッタ17から出力された光をバランスドミキサ部Bでホモダイン検波する。

Claim (excerpt)：

位相同期された振幅スクィーズド状態で動作する2つの光源と、該2つの光源の出力光を合波するビームスプリッタと、前記2つの光源の出力光間に位相差を与える位相検出センサーと、前記ビームスプリッタの出力をホモダイン検波する検波手段を具備することを特徴とする干渉計。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

分光方法及び分光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-054264 Applicant：日本電信電話株式会社
分光方法及び分光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-054263 Applicant：日本電信電話株式会社
特開平4-178531

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