調整可能な波長を有する超音波発生レーザ光源を使用した超音波レーザ検査システムと方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：浅村皓 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001521962
Publication number (International publication number)：2003508771
Application date： Jul. 27, 2000
Publication date： Mar. 04, 2003
Summary：

【要約】遠隔目標(102)上の超音波変位を発生するシステムと方法が説明される。本発明の方法は、第1波長γを有するビーム(12)を発生するために最初にレーザ(10)を使用して、遠隔目標に超音波変位を生成するステップを含む。このレーザ・ビームは、超音波変位の特性を変更するために変調され得る第1波長γを有する。遠隔目標(102)におけるこれらの超音波変位は、遠隔目標(102)により反射または散乱された第2パルス・レーザ・ビーム(104)からの位相変調光を集めるための検出レンズと、位相変調光を処理して少なくとも1つの出力信号を発生する干渉計と、少なくとも1つの出力信号を処理して遠隔目標の表面上の超音波表面変位を表現するデータを得る手段を強化するように最適化され得る。

Claim (excerpt)：

遠隔目標で超音波変位を生成する方法であって、第1波長を有する第1レーザ・ビームを使用して、前記遠隔目標で超音波変位を生成するステップと、前記第1レーザ・ビームの前記第1波長を第2波長へシフトして、前記超音波変異の特性を変更するステップと、前記第1レーザ・ビームを前記遠隔目標上の一点へ向けるステップを含む前記方法。

IPC (2)：

G01N 29/00 501 , H01S 3/00

FI (2)：

G01N 29/00 501 , H01S 3/00 F

F-Term (23)：

2G047AA05 , 2G047BC07 , 2G047CA04 , 2G047EA04 , 2G047EA09 , 2G047EA10 , 2G047EA16 , 2G047GD01 , 2G047GF07 , 2G047GF08 , 5F072AA05 , 5F072AB02 , 5F072AB05 , 5F072AB20 , 5F072JJ20 , 5F072KK30 , 5F072MM03 , 5F072PP01 , 5F072PP07 , 5F072QQ03 , 5F072RR01 , 5F072SS06 , 5F072YY11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

光熱変位計測による試料評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-003721 Applicant：株式会社神戸製鋼所
特開平3-156362
イオン交換クロマトグラフ分析方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-245221 Applicant：三菱重工業株式会社

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