Pat
J-GLOBAL ID：200903032783370322

被検体における元素濃度を位置分解して求める方法および装置

Inventor：
ビエルン ハイスマン

About ビエルン ハイスマン


Applicant, Patent owner：
シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト

About シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト


Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004320188
Publication number (International publication number)：2005137903
Application date： Nov. 04, 2004
Publication date： Jun. 02, 2005
Summary：
【課題】元素および/または元素結合物からなる被検体における元素および/または元素結合物の濃度を位置分解して求める。 【解決手段】n個の元素および/または元素結合物からなる被検体におけるn個の元素および/または元素結合物の濃度を位置分解して求めるために、X線装置(8)により同時にまたは次々に、被検体(11)の少なくとも1つの範囲における複数のディジタルX線像が、X線像において同じ位置を表す各ピクセルについてm個の減弱値μiを得るために、同じジオメトリ条件下でX線ビームS(E)および/または検出器感度D(E)のm(≧n)個の異なるスペクトル分布で描出され、少なくとも1つのピクセルについてそれぞれm個の減弱値μiから、n個の元素および/または元素結合物の既知のスペクトルの吸収スペクトルkj(E)とX線ビームS(E)および/または検出器感度D(E)のm個の異なるスペクトル分布とを考慮して、n個の元素および/または元素結合物の濃度cjが算出される。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
n個の元素および/または元素結合物からなる被検体におけるn個の元素および/または元素結合物の濃度を位置分解して求める方法において、 X線装置(8)により同時にまたは次々に、被検体(11)の少なくとも1つの範囲における複数のディジタルX線像が、X線像において同じ位置を表す各ピクセルについてm個の減弱値μiを得るために、同じジオメトリ条件下でX線ビームS(E)および/または検出器感度D(E)のm(≧n)個の異なるスペクトル分布で描出され、 少なくとも1つのピクセルについてそれぞれm個の減弱値μiから、n個の元素および/または元素結合物の既知のスペクトルの吸収スペクトルkj(E)とX線ビームS(E)および/または検出器感度D(E)のm個の異なるスペクトル分布とを考慮して、n個の元素および/または元素結合物の濃度cjが算出される ことを特徴とする被検体における元素濃度を位置分解して求める方法。
IPC (2)：
A61B6/03 ,  G01N23/04
FI (2)：
A61B6/03 370Z ,  G01N23/04
F-Term (15)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001NA01 ,  2G001NA03 ,  2G001NA09 ,  4C093AA22 ,  4C093CA37 ,  4C093EB30
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 米国特許第4247774号明細書
  • 独国特許出願公開第10143131号明細書
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM