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J-GLOBAL ID:200903032811917081

割断方法、割断装置及びチップ材料

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 薄田 利幸
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995179046
Publication number (International publication number):1997029472
Application date: Jul. 14, 1995
Publication date: Feb. 04, 1997
Summary:
【要約】【目的】レーザによる基板の割断方法で、割断起点付近の割断方向の精度を向上させる方法を提供すること。【構成】セラミック基板2の裏面をエッジ型治具6Aや半球型治具6Bで冷却し、表面にレーザ光1を照射すると、初期亀裂が発生する。この初期亀裂から所定の方向にレーザ照射して割断を行う。
Claim (excerpt):
少なくとも被処理基板の割断開始点を局所的に冷却し、上記割断開始点をレーザ照射して初期亀裂を形成し、レーザ照射により、上記初期亀裂から割断を行うことを特徴とする割断方法。
IPC (6):
B23K 26/00 320 ,  B23K 26/00 ,  B23K 31/00 ,  B28D 5/00 ,  H01L 21/301 ,  H01S 3/104
FI (8):
B23K 26/00 320 E ,  B23K 26/00 M ,  B23K 26/00 G ,  B23K 31/00 J ,  B28D 5/00 A ,  H01S 3/104 ,  H01L 21/78 T ,  H01L 21/78 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開平3-000489
  • 特開平1-321085
  • 特開昭56-129340
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