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J-GLOBAL ID：200903032842951261

磁性体濃度の検出方法及び装置

Inventor： 永石 竜起 ,  糸▲崎▼ 秀夫
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 岡部 惠行 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997091736
Publication number (International publication number)：1998268013
Application date： Mar. 26, 1997
Publication date： Oct. 09, 1998
Summary：

【要約】【課題】 物質に微量に含有される磁性体元素成分の濃度を、非接触状態で即自に精度よく測定する方法及び装置の提供。【解決手段】 物質(1)は、非磁性体からなる管路(2)を通流させられ、先ず、含有される磁性体成分が磁場印加手段(3)により磁化され、次に、超電導量子干渉素子(SQUID)による磁気センサ(8)を含む磁気計測手段(8,10)によって、磁化された磁性体成分による磁場のみが検出される。1つの例では、磁気センサ(8)及びその近傍の管路(2)が磁気シールド(4)によって、外部磁気ノイズ(Mo)の侵入が防止され、他の例では、磁気センサ(8)内に管路に近接するSQUID及び管路から離れたSQUIDが設けられ、計測回路(10)で両SQUID出力が差分されて、外部磁気ノイズ(Mo)が相殺される。

Claim (excerpt)：

物質に含有される磁性体の濃度を計測する方法であって、物質が通流する通路の外部からこの物質に磁場を印加し、該物質に含有される磁性体を磁化するステップ、及び、超電導量子干渉素子を有する磁気センサにより前記管路の下流側における前記磁化された磁性体からの磁場の強さのみを実質的に検出するステップから成ることを特徴とする磁性体濃度計測方法。

IPC (3)：

G01R 33/12 ,  G01N 27/72 ,  G01R 33/035 ZAA

FI (3)：

G01R 33/12 Z ,  G01N 27/72 ,  G01R 33/035 ZAA

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-015753
  
• 非破壊検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-182883   Applicant：住友電気工業株式会社
• 特開平4-357481