質量分析計

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小川勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996081186
Publication number (International publication number)：1997274885
Application date： Apr. 03, 1996
Publication date： Oct. 21, 1997
Summary：

【要約】【課題】イオントラップ質量分析計において、高極性物質の検出感度を向上させる。【解決手段】第二細孔の開口する電極9とイオン取り込み口の開口するエンドキャップ12aとの間にイオンを減速する電位差を設け、イオンの質量分析計への入射エネルギーを低くする。【効果】ドリフト電圧によらずにイオンの入射エネルギーを低くでき、質量分析計へのイオンの蓄積が容易になる。このため、高いドリフト電圧を使用できるので、差動排気部における高極性物質の脱溶媒を効果的に行うことができ、高極性物質の検出感度が向上する。

Claim (excerpt)：

試料溶液を供給する手段と、該試料をイオン化するイオン化手段と、該イオン化手段によって生成されたイオンを真空中に取り込む細孔と、該細孔から取り込まれた該イオンの質量を分析するイオントラップ型の質量分析手段とからなる質量分析計であって、該細孔が開口する電極と該イオントラップ型質量分析手段におけるイオン取り込み口が開口する電極との間に、該イオンを減速させる電位差を設けたことを特徴とする質量分析計。

IPC (3)：

H01J 49/06 , G01N 27/62 , H01J 49/34

FI (4)：

H01J 49/06 , G01N 27/62 X , G01N 27/62 E , H01J 49/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

特開平2-181645
質量分析計および静電レンズ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-232833 Applicant：株式会社日立製作所
特開昭59-230246

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