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J-GLOBAL ID：200903033186137761

時系列画像解析装置及びその解析方法

Inventor： 西塚 弘美
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995272635
Publication number (International publication number)：1996214289
Application date： Oct. 20, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：

【要約】【課題】【目的】本発明は、対象物の形状と動作に関する知識を利用し、対象物の動きを高精度に解析を行うことができる時系列画像解析装置及びその解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】【構成】本発明は、デジタル画像信号をフレーム単位での画像データとして記憶するバッファメモリ部3と、その画像データから対象物(動画像領域)を抽出し、シルエット画像を生成する形状生成部5と、そのシルエット画像を対象物の各部位の形状に対応する幾何学的なモデル形状や動作による形状変化の情報が記憶される対象物モデル部6と、形状生成部5と対象物モデル部6の出力から対象物の各部位の位置や傾斜角のパラメータを概念的に算出するパラメータ算出部7と、算出されたパラメータ群全体をシルエット画像群に整合させる整合部8と出力部10とで構成される時系列画像解析装置である。

Claim (excerpt)：

時系列画像中の所定の対象物を解析する時系列画像解析装置において、上記時系列画像中の所定の時間範囲内の複数の画像から対象物を抽出する形状生成手段と、上記対象物の形状及び動きによる形状変化に関する知識を、上記対象物を構成する部位のそれぞれについてパラメータとして格納する対象物モデル手段と、上記形状生成手段によって抽出された上記対象物から上記対象物モデル手段に格納されたパラメータと対応した部位の位置や傾斜角の種類及び時刻のパラメータを算出するパラメータ算出手段と、上記複数の画像のそれぞれに対応する、上記パラメータ算出手段により算出された上記対象物のパラメータを構成要素とするパラメータの集合を、上記対象物のパラメータに対応する上記モデル手段に格納されたパラメータのそれぞれを構成要素とするパラメータの集合に整合させる整合手段と、を有することを特徴とする時系列画像解析装置。

IPC (2)：

H04N 7/18 ,  G06T 7/20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-005416   Applicant：株式会社エイ・ティ・アール通信システム研究所
• 特開平4-259075
  
• 特開昭56-126886