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J-GLOBAL ID：200903033338410680

蛍光測定装置

Inventor： 松村 義彦 ,  藤村 慎二
Applicant, Patent owner： 大塚電子株式会社
Agent (1)： 稲岡 耕作 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002095672
Publication number (International publication number)：2003294633
Application date： Mar. 29, 2002
Publication date： Oct. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】励起光源を用いて試料室内の複数の試料、又は同一試料の多点をほぼ同時に測定する。【解決手段】励起光の照射位置に回転試料台2を備え、前記回転試料台2には同心円上に複数の貫通孔2aを形成し、試料設置部3をこの貫通孔2aに挿入可能とした。【効果】試料台2を、励起光の照射位置に対して相対的に移動させることができ、試料室内1の試料の取替えをしなくても、複数の試料の蛍光測定ができる。

Claim (excerpt)：

励起光源を用いて試料室内の試料に励起光を照射して蛍光測定する蛍光測定装置において、励起光の照射位置に対して相対的に移動可能な試料台を備え、前記試料台には複数の試料が設置可能であることを特徴とする蛍光測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/06

FI (2)：

G01N 21/64 Z ,  G02B 21/06

F-Term (22)：

2G043CA05 ,  2G043CA06 ,  2G043DA06 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB08 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043JA04 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA03 ,  2H052AA09 ,  2H052AC15 ,  2H052AC18 ,  2H052AF02 ,  2H052AF23

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 蛍光粒子撮像用容器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-356416   Applicant：興和株式会社
• 複合レーザ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-090477   Applicant：ウシオ電機株式会社