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J-GLOBAL ID:200903033387670018

スパッタリングターゲット及びその製造方法ならびに半導体素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 阿仁屋 節雄 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996216350
Publication number (International publication number):1998060632
Application date: Aug. 16, 1996
Publication date: Mar. 03, 1998
Summary:
【要約】【課題】 耐酸化性、耐腐食性、耐エレクトロマイグレーション性、耐ストレスマイグレーション性に優れたスパッタリングターゲット及びこのスパッタリングターゲットにより配線された銅配線を持つ半導体素子を提供する。【解決手段】ガス成分を除いた純度99.9999重量%以上の銅を基体金属として、酸素濃度0.1容量ppm以下の雰囲気で、上記基体金属の溶解と鋳造を行う。得られた鋳塊に機械加工と中間焼鈍を行い、その後有機洗浄とエッチングを行ってスパッタリングターゲットとを得る。
Claim (excerpt):
銅を主成分とするスパッタリングターゲットであって、0.001重量ppm以上、0.03重量ppm以下の酸素(O)を含有することを特徴とするスパッタリングターゲット。
IPC (4):
C23C 14/34 ,  H01L 21/203 ,  H01L 21/285 ,  H01L 21/285 301
FI (4):
C23C 14/34 A ,  H01L 21/203 S ,  H01L 21/285 S ,  H01L 21/285 301 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (1)

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