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J-GLOBAL ID:200903033502845790
電子写真感光体の膜厚測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
野河 信太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999168371
Publication number (International publication number):2000356859
Application date: Jun. 15, 1999
Publication date: Dec. 26, 2000
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 基体表面を粗面化した感光体でも、より正確に膜厚を測定すること。【解決手段】 導電性基体上に電荷発生槽および電荷輸送層を塗布形成した電子写真感光体の膜厚を光干渉法を用いて測定するに際して、膜厚を測定する時の測定波長を基体の表面粗さの十点平均粗さRzより長波長とする電子写真感光体の膜厚測定方法。測定反射光を1本のみの光ファイバーで受光し、受光する光ファイバーが、導電性基体の鉛直位置から傾斜している膜厚測定法導電性基体の表面が切削加工されたものである。
Claim (excerpt):
導電性基体上に下引層を介するか介せずして電荷発生層および電荷輸送層を塗布形成した電子写真感光体の各層の膜厚を光干渉法を用いて測定するに際して、予め導電性基体の平均表面粗さを測定し、その測定平均表面粗さより大きい値を光干渉法の測定波長として用いることを特徴とする電子写真感光体の膜厚測定方法。
IPC (2):
G03G 5/00 101
, G03G 5/10
FI (2):
G03G 5/00 101
, G03G 5/10
F-Term (7):
2H068AA34
, 2H068AA35
, 2H068AA59
, 2H068EA07
, 2H068EA41
, 2H068FB07
, 2H068FB08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特開平4-336540
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有機電子写真感光体の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-281239
Applicant:シャープ株式会社
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電子写真感光体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-311923
Applicant:コニカ株式会社
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多層薄膜の膜厚検出方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-089517
Applicant:三菱化学株式会社
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特開平1-316752
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特開昭53-125865
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特開昭60-001503
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特公平7-027262
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