Pat

J-GLOBAL ID：200903033530157190

細隙灯顕微鏡

Inventor： 芳村 一裕
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999216418
Publication number (International publication number)：2001037726
Application date： Jul. 30, 1999
Publication date： Feb. 13, 2001
Summary：

【要約】【課題】 被検者の位置合わせから観察、検査終了までの間、検者があまり無理な姿勢をすること無く、容易に作業を行うことができる細隙灯顕微鏡を提供する。【解決手段】 被検者の頭部を支持し被検眼の位置を安定させる支持手段と被検眼をスリット照明する照明光学系と被検眼の観察条件を設定する条件設定手段とを持つ細隙灯顕微鏡において、スリット照明された被検眼を光電撮像素子に撮像する撮像手段と、固定台上を操作手段の操作により移動可能に載置されると共に、照明光学系と撮像部とが同一軸を中心にして互いに回転可能に取り付けられた基台と、基台に取り付けられたディスプレイを持ち撮像手段によって撮像された被検眼をディスプレイ上に表示する表示手段を備える。

Claim (excerpt)：

被検者の頭部を支持し被検眼の位置を安定させる支持手段と被検眼をスリット照明する照明光学系と被検眼の観察条件を設定する条件設定手段とを持つ細隙灯顕微鏡において、スリット照明された被検眼を光電撮像素子に撮像する撮像手段と、固定台上を操作手段の操作により移動可能に載置されると共に、前記照明光学系と撮像部とが同一軸を中心にして互いに回転可能に取り付けられた基台と、該基台に取り付けられたディスプレイを持ち前記撮像手段によって撮像された被検眼を該ディスプレイ上に表示する表示手段を備えたことを特徴とする細隙灯顕微鏡。

FI (2)：

A61B 3/12 H ,  A61B 3/12 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• スリツトランプマイクロスコープ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-236600   Applicant：株式会社ニコン
• 眼科用撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-262403   Applicant：株式会社ニコン
• 眼科装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-286173   Applicant：キヤノン株式会社