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J-GLOBAL ID：200903033966339056

粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法

Inventor： デイヴィッド ジョン ワトソン ,  クリーヴ パトリック アシュレイ カタラル ,  ダンカン エドワード ステファンソン
Applicant, Patent owner： マルベルン インスツルメンツ リミテッド
Agent (1)： 飯田 伸行
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999234586
Publication number (International publication number)：2000097841
Application date： Aug. 20, 1999
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：

【要約】【課題】 粒子サイズ分布を測定するための装置及び方法の改良。【解決手段】 この粒子サイズ分布分析装置は、粒子のサンプルを収容するようになされたサンプル測定帯域(16)と、該測定帯域(16)に入射する光源を提供するようになされた発光手段(2,42)と、いろいろな異なる散乱角度の光レベルを測定してコンピューティング手段へ信号を出力するようになされており、該サンプル中に含有されている粒子の粒子サイズを測定することを可能にする検出手段(22,40)とから成り、前記発光手段(2,42)は、実質的に単色の第1波長の光を出射する第1光源(2)と、実質的に単色の、第1波長とは異なる第2波長の光を出射する第2光源(42)とから成る。

Claim (excerpt)：

粒子サイズ分布分析装置であって、粒子のサンプルを収容するようになされたサンプル測定帯域と、該測定帯域に入射する光源を提供するようになされた発光手段と、いろいろな異なる散乱角度の光レベルを測定してコンピューティング手段へ信号を出力するようになされており、該サンプル中に含有されている粒子の粒子サイズを測定することを可能にする検出手段とから成り、前記発光手段は、実質的に単色の第1波長の光を出射する第1光源と、実質的に単色の、第1波長とは異なる第2波長の光を出射する第2光源とから成ることを特徴とする粒子サイズ分布分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 特開昭59-160741
  
• 特開平4-098145
  
• 特開平2-066425
  
• 特開昭62-293143
  
• 特開平3-006440
  
• 特開平4-172232
  
• 光散乱式微粒子検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-032817   Applicant：リオン株式会社