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J-GLOBAL ID：200903034065627075
偏光変調用の光学構成部材、この光学構成部材を備えるミュラー偏光計および偏光解析装置、この偏光解析装置の較正方法ならびに偏光解析方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
武田 正彦 (外2名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998520100
Publication number (International publication number)：2000502461
Application date： Oct. 16, 1997
Publication date： Feb. 29, 2000
Summary：
【要約】この発明は偏光変調用の光学構成部材、この光学構成部材から成る偏光計およびミュラー偏光解析計に関する。光学構成部材で線状に偏光された入射光ビーム(10)を変調して、その変調ビーム(11)を返送する。この構成部材には入射ビームを引き続き二度変調する、連結位相モジュレータ(6B)が含まれ、両変調は同一周波数ω/2πを持ち、両変調間で光の偏光度を修正する装置(61)に連結されている。偏光解析計にはサンプルで返送され、変調ビームを受け入れる測定ビーム検出装置と、処理装置とが含まれる。検出装置には、ビームの偏光状態を表すn個の測定量を提供する偏光計を備え、処理装置によりフーリエ変換を利用して、上記測定量のそれぞれに対してm個の値を得、n×m≧16およびm≧4の条件で同時に、サンプルのミュラーマトリックスの16個の係数を処理している。
Claim (excerpt)：
線状に偏光した入射ビーム(10)を変調し、この変調入射ビーム(11)を返送する偏光モジュレータ(6A,6B)から成り、偏光モジュレータ(6A,6B)が引き続き二回、入射ビーム(10)を変調する連結位相モジュレータであり、二変調が厳密に同一の周波数ω/2πのもとで連結され、その変調が、二変調間で光の偏光状態を変更する(modifies)システム(23,61,71)によって連結されていることを特徴とする偏光変調用の光学構成部材。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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