IC試験装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：草野卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998338875
Publication number (International publication number)：2000163989
Application date： Nov. 30, 1998
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】高速試験が可能なIC試験装置を安価に得る。【解決手段】複数のテストステーションを装備し、これら複数のテストステーションの各々でICを試験することができるIC試験装置において、各テストステーションの各対応するチャンネルのレベル比較器の出力側に各テストステーションの各チャンネル相互に信号を分岐する分岐回路と、この分岐回路で分岐される他のテストステーションのレベル比較器の信号と、自己のレベル比較器の出力を選択するセレクタとを設け、他のテストステーションのレベル比較器の出力を選択して1個のICの出力を自己の論理比較器と他のテストステーションの論理比較器によって論理比較し、高速試験を可能とした。

Claim (excerpt)：

被試験ICが出力する応答出力信号が正規のH論理レベルとL論理レベルとを具備しているか否かを判定するレベル比較器と、このレベル比較器のレベル比較結果を期待値と比較する論理比較器とを具備し、上記レベル比較器と論理比較器とから成るチャンネルが被試験ICが持つ出力端子の数と対応して設けられてテストステーションが構成され、少なくとも2個以上のテストステーションが設けられて2個以上のICを同時に試験することができるIC試験装置において、一つのテストステーションに設けられたレベル比較器の比較結果を他のテストステーションのチャンネルに分岐させる分岐回路を設け、この分岐回路を通じて同一の被試験ICから出力された信号を複数のテストステーションのチャンネルに入力し、各チャンネルの論理比較器で異なるタイミングで期待値と論理比較して高速テストを実行することを特徴とするIC試験装置。

IPC (2)：

G11C 29/00 651 , G01R 31/28

FI (4)：

G11C 29/00 651 S , G01R 31/28 D , G01R 31/28 Y , G01R 31/28 H

F-Term (18)：

2G032AA07 , 2G032AB01 , 2G032AC04 , 2G032AE06 , 2G032AE07 , 2G032AE08 , 2G032AE10 , 2G032AE12 , 2G032AG02 , 2G032AG07 , 2G032AH04 , 2G032AK01 , 2G032AL11 , 5L106DD03 , 5L106DD04 , 5L106DD25 , 5L106GG01 , 5L106GG04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

IC試験装置用論理比較器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-026786 Applicant：株式会社アドバンテスト

Return to Previous Page