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J-GLOBAL ID：200903034093688705

吸光分析計

Inventor：
西川 雅浩

About 西川 雅浩

, 
大橋 秀樹

About 大橋 秀樹


Applicant, Patent owner：
株式会社堀場製作所

About 株式会社堀場製作所


Agent (2)： 西村 竜平 ,  佐藤 明子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006349712
Publication number (International publication number)：2008157874
Application date： Dec. 26, 2006
Publication date： Jul. 10, 2008
Summary：
【課題】光源ドリフトの補償、他成分干渉の補正、サンプルセル5の透過窓の汚れによる光量低下の補正、感度ドリフトの低減を一挙に実現可能な吸光分析計1を提供する。【解決手段】波長帯域の異なる2つの光源と、基準となるリファレンスセル4と、サンプルが供給されるサンプルセル5と、前記光源からの光を分割して、前記リファレンスセル4及び前記サンプルセル5に一端側から導入する光案内機構6と、前記リファレンスセル4及び前記サンプルセル5の他端側に設けられ、それらセルを透過した光を検出する光検出部7と、前記2つの光源2、3を交互点灯させるとともに、前記光検出部7が前記2つの光源2、3のそれぞれが点灯しているときの透過光を検出するように制御する制御部8とを備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
発光スペクトルの波長帯域の異なる2つの光源と、 リファレンスセルと、 サンプルが供給されるサンプルセルと、 前記光源からの光を、前記リファレンスセル及び前記サンプルセルに一端側から導入する光案内機構と、 前記リファレンスセル及び前記サンプルセルの他端側に設けられ、それらセルを透過した光を検出する光検出部と、 前記2つの光源を交互点灯させるとともに、前記光検出部が前記2つの光源のそれぞれが点灯しているときの透過光を検出するように制御する制御部を備えている吸光分析計。
IPC (2)：
G01N 21/33 ,  G01N 21/27
FI (2)：
G01N21/33 ,  G01N21/27 F
F-Term (19)：
2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF08 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG07 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059KK01 ,  2G059KK02 ,  2G059MM14 ,  2G059MM15 ,  2G059MM17 ,  2G059NN05 ,  2G059NN07 ,  2G059NN08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 特許第3078983号
Cited by examiner (4)
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