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J-GLOBAL ID：200903034107064688

雷試験回路及び方法

Inventor：
西崎 吾郎

About 西崎 吾郎


Applicant, Patent owner：
NECインフロンティア株式会社

About NECインフロンティア株式会社


Agent (4)： 山下 穣平 ,  志村 博 ,  永井 道雄 ,  山下 穣平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003075911
Publication number (International publication number)：2004289262
Application date： Mar. 19, 2003
Publication date： Oct. 14, 2004
Summary：
【課題】雷サージ電圧を被試験機器のアース端子に印加してインピーダンス回路で接地された電源線から雷電流が抜ける雷試験方法を提供する。【解決手段】被試験機器1の交流電源線は、絶縁トランス4を介して商用電源に接続されている。インピーダンス回路3は、交流電源線の大地帰路インピーダンスに相当し、その一方の端は交流電源線の一方に接続されている。雷サージ発生器2のサージ出力は被試験機器1の機器アースに接続され、雷サージ発生器2のグランドはインピーダンス回路3の他方の端に接続されている。雷サージ発生器2は、高い出力インピーダンスである。雷サージ発生器2による雷サージ電圧を、被試験機器1のアース端子から印加して、接地された電源線から雷電流が抜けるような試験を行う。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
交流電源に接続された被試験機器と、 高い出力インピーダンスを有する雷サージ発生器と、 交流電源線の大地帰路インピーダンスに相当するインピーダンス回路とを備え、 前記雷サージ発生器のサージ出力が、前記被試験機器の機器アースに接続され、前記雷サージ発生器のグランドが、前記インピーダンス回路を介して前記被試験機器の交流電源線の一方に接続されていることを特徴とする雷試験回路。
IPC (2)：
H04M1/24 ,  G01R31/00
FI (2)：
H04M1/24 A ,  G01R31/00
F-Term (6)：
2G036AA02 ,  2G036BA00 ,  2G036CA10 ,  5K027BB04 ,  5K027GG05 ,  5K027LL01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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