光線路の監視方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：志賀正武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996045004
Publication number (International publication number)：1997247102
Application date： Mar. 01, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】光分岐手段を用いて複数の被監視線路が構築された光線路を、OTDRで一括的に監視できるとともに、破断箇所を確実に、かつ容易に検出できるようにした光線路の監視方法を提供する。【解決手段】 1つの交換局1と複数の基地局5,6,7とを光分岐デバイス12を介して光ファイバで結んでなる複数の被監視線路21の線路長をそれぞれ異なる長さとし、かつその線路長の差をOTDR2から出射される試験光のパルス幅に相当する長さの半分以上とする。被監視線路21の交換局1側から試験光を入射させ、入射端にもどってくる光の強度をOTDR2で経時的に測定して得られる波形を、正常状態で得られる波形と比較する。正常状態の波形との差により断線の発生および断線位置を検知する。

Claim (excerpt)：

1つの入射端(1)と複数の出射端(5,6,7)とを光分岐手段(12)を介して光ファイバ(11,13,15,16)で結んでなる複数の被監視線路(21)を、OTDR(2)を用いて監視する方法であって、前記複数の被監視線路の線路長をそれぞれ異なる長さとし、かつその線路長の差をOTDRから出射される試験光のパルス幅に相当する長さの半分以上とすることを特徴とする光線路の監視方法。

IPC (2)：

H04B 17/00 , H04B 10/08

FI (2)：

H04B 17/00 B , H04B 9/00 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

光分岐を含む光線路の減衰量測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-034235 Applicant：安藤電気株式会社
特開昭51-077345

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