液晶パネル検査装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：鈴木利之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005161175
Publication number (International publication number)：2006337642
Application date： Jun. 01, 2005
Publication date： Dec. 14, 2006
Summary：

【課題】液晶パネル検査装置のバックライト装置として複数の発光ダイオードを用いて,それらの発光ダイオードの交換を容易にし,かつ,照明効率を向上させる。【解決手段】バックライト装置の複数の発光ダイオード基板84は個別に着脱可能である。各発光ダイオード基板84は複数の発光ダイオード86を含んでいる。それらの発光ダイオード86の発光面112は,すべて,同一の照明方向114を向いている。任意の発光ダイオード基板84に含まれる発光ダイオード86と,その隣の発光ダイオード基板84に含まれる発光ダイオード86との間には,反射板90が配置されている。発光ダイオード86から射出された光のうち,反射板90で反射した光116bは,その進行方向が照明方向114に近くなり,照明効率が向上する。【選択図】図11

Claim (excerpt)：

液晶パネルをバックライト装置で背面側から照明して液晶パネルを検査する液晶パネル検査装置において, 前記バックライト装置は,個別に着脱可能な複数の発光ダイオード基板を備えていて,前記複数の発光ダイオード基板は,それぞれ,複数の発光ダイオードを含んでおり, 前記バックライト装置に含まれるすべての発光ダイオードは,その発光面の法線が同一の照明方向を向いていて, 任意の前記発光ダイオード基板に含まれる前記発光ダイオードと,前記任意の発光ダイオード基板の隣に位置する別の発光ダイオード基板に含まれる前記発光ダイオードとの間に,反射部材が配置されていて, 前記反射部材は,前記発光ダイオードの前記発光面から射出された光のうち,前記照明方向に対して第1の角度で射出されて前記反射部材に到達する光を,前記照明方向に対して前記第1の角度よりも小さい第2の角度になるように反射させることを特徴とする液晶パネル検査装置。

IPC (4)：

G02F 1/13 , G01M 11/00 , F21S 2/00 , G02F 1/133

FI (4)：

G02F1/13 101 , G01M11/00 T , F21S1/00 E , G02F1/13357

F-Term (8)：

2G086EE10 , 2H088FA12 , 2H088FA13 , 2H088FA30 , 2H088MA20 , 2H091FA45Z , 2H091FC30 , 2H091LA09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-138791 Applicant：東京エレクトロン株式会社

Cited by examiner (7)

検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-138791 Applicant：東京エレクトロン株式会社
発光パネル装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-281100 Applicant：シーシーエス株式会社
光源および光源装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-230451 Applicant：シャープ株式会社

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