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J-GLOBAL ID：200903034250530746

分光分析方法およびその装置

Inventor：
関 行裕

About 関 行裕

, 
南光 智昭

About 南光 智昭


Applicant, Patent owner：
横河電機株式会社

About 横河電機株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001031968
Publication number (International publication number)：2002236095
Application date： Feb. 08, 2001
Publication date： Aug. 23, 2002
Summary：
【要約】【課題】チャンネル毎に独立したパラメータを変更する場合、装置全体で1つの運転モードのなるために、1つのチャンネルのパラメータを変更するときでも全てのチャンネルの連続測定を停止しなければならなかった。また、連続測定にしたまま他のチャンネルのパラメータを変更すると、出力値が大きく変動した。このような課題を解決する。【解決手段】チャンネル毎にパラメータ変更などのメンテナンスを行うマニュアルモードと連続測定を行うオートモードが設定できるようにして、マニュアルモードのときは出力値をホールドするようにした。また、外部にモード情報を出力するようにした。他のチャンネルを連続測定にしたままあるチャンネルをマニュアルモードにしてパラメータを変更することができる。また、マニュアルモードのときは出力をホールドし、モード情報を他の機器に通知できるので、出力が急に変動して他の機器に悪影響を与えることがなくなる。
Claim (excerpt)：
複数の測定チャンネルを有し、これらのチャンネルで複数のサンプルの吸収スペクトルを測定して前記サンプルの性状値を求める分光分析方法において、前記チャンネル毎にそのチャンネル固有の測定パラメータを設定するマニュアルモードと連続測定を行うオートモードを設定できるようにして、前記マニュアルモードに設定されたときはチャンネル固有の測定パラメータを設定し、前記オートモードに設定されたときは性状値の連続測定を行うようにしたことを特徴とする分光分析方法。
IPC (2)：
G01N 21/35 ,  G01N 21/01
FI (2)：
G01N 21/35 Z ,  G01N 21/01 Z
F-Term (12)：
2G059AA01 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF11 ,  2G059JJ01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059PP02 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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