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J-GLOBAL ID：200903034959562633

X線自動検査装置

Inventor： 渋谷 潔 ,  小川 優
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996287876
Publication number (International publication number)：1998132761
Application date： Oct. 30, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】 最小限のX線照射で、X線センサ部の長寿命化が可能な電子部品などの内部状態の良否を判別するX線自動検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】 対象物品4を搬送する搬送機構5と、対象物品4にX線を照射するX線発生機構1と、対象物品4のX線透過画像を検出するX線センサ部6からのTV映像信号を画像処理する画像処理部7と、画像処理部7からの信号と搬送機構5からの信号を入力とする制御部9と、その出力で作動する駆動手段3により開閉動作をするシャッタ2で構成されたX線自動検査装置。

Claim (excerpt)：

検査する対象物品を搬送する搬送機構と、対象物品に照射するX線を発生するX線発生機構と、対象物品のX線透過画像を検出するX線センサ部と、X線センサ部のTV映像信号を入力として所定の画像処理を行う画像処理部と、画像処理部からの信号と搬送機構からの信号を入力とする制御部の出力で作動する駆動手段により開閉動作をするシャッタを設置して構成され、前記対象物品の透過画像の画像処理によりその内部状態の良否判別を行うX線自動検査装置。

IPC (2)：

G01N 23/04 ,  G21K 1/02

FI (2)：

G01N 23/04 ,  G21K 1/02 R

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• X線検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-061718   Applicant：株式会社東芝
• 特開昭56-103359
  
• 特開昭57-056741
  
• 特開昭63-079042