Pat
J-GLOBAL ID：200903035042100262

化学的または生物学的分析マルチポイントマイクロシステム

Inventor：
パトリス・カヤ

About パトリス・カヤ

, 
ジャン-フレデリク・クラーク

About ジャン-フレデリク・クラーク


Applicant, Patent owner：
コミツサリア タ レネルジー アトミーク

About コミツサリア タ レネルジー アトミーク


Agent (1)： 志賀 正武 (外7名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000563399
Publication number (International publication number)：2002522749
Application date： Jul. 30, 1999
Publication date： Jul. 23, 2002
Summary：
【要約】本発明は、各マイクロウェル(7)が、導電性ポリマーと結合した試薬(14a、15a、16a)を受け止めるように企画され、各マイクロウェルが受容電極(9a)を備え、当該受容電極上に、前記試薬が、当該試薬と結合した導電性ポリマーによって固定され、各マイクロウェルが対電極(9b)を備え、当該対電極が、マイクロウェルの容量において、対電極と受容電極の間に電場を適用できるように設定され、かかる構造が、第一の電位に対して全ての受容電極を同時連結する手段と、第二の電位に対して全ての対電極を同時連結する手段とを含み、前記電場をセットアップすることができる、マイクロウェルを備えた構造からなる化学的または生物学的分析マルチポイントマイクロシステムに関する。
Claim (excerpt)：
以下の工程: a)試薬を導電性ポリマーモノマーと結合させる工程、 b)前記導電性ポリマーモノマーと結合した前記試薬の混合物を含む電解質キャリアー溶液(14、15、16)を、基板上に形成されたマイクロウェルの少なくとも一のマイクロウェルに添加する工程であって、各マイクロウェルは受容電極と対電極とを備え、電解質溶液は受容電極と対電極との間の電気化学的回路を閉じるのに十分な量で添加され、 c)電解質溶液が添加されたマイクロウェルにおいて、前記試薬を備えた導電性ポリマーを受容電極上に共重合および固定化すべく、受容電極と対電極との間に電場を適用する工程、 d)かかる構造のマイクロウェルをすすいで、残りのキャリアー溶液を除く工程を含む、化学的または生物学的分析マルチポイントマイクロシステムを製造する方法。
IPC (8)：
G01N 37/00 ,  G01N 37/00 102 ,  C12M 1/00 ,  C12N 15/09 ,  G01N 27/30 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/53 ,  G01N 21/64
FI (8)：
G01N 37/00 ,  G01N 37/00 102 ,  C12M 1/00 A ,  G01N 27/30 Z ,  G01N 33/483 F ,  G01N 33/53 T ,  G01N 21/64 F ,  C12N 15/00 F
F-Term (43)：
2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB11 ,  2G043GB12 ,  2G043GB21 ,  2G045BA13 ,  2G045BA20 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045DA80 ,  2G045FB02 ,  2G045FB03 ,  2G045FB07 ,  2G045FB15 ,  2G045HA06 ,  2G045HA10 ,  2G045HA14 ,  2G045HA16 ,  2G045HA20 ,  2G045JA07 ,  2G045JA20 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024CA11 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029AA23 ,  4B029BB15 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029FA12 ,  4B029FA15 ,  4B029GA03 ,  4B029GB10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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