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J-GLOBAL ID：200903035056534680

写真測量による変位計測方法及び変位計測装置

Inventor：
二村 孝房

About 二村 孝房


Applicant, Patent owner：
倉敷紡績株式会社

About 倉敷紡績株式会社


Agent (5)： 青山 葆 ,  河宮 治 ,  伊藤 晃 ,  山本 俊則 ,  中塚 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002240621
Publication number (International publication number)：2004077377
Application date： Aug. 21, 2002
Publication date： Mar. 11, 2004
Summary：
【課題】変位前と変位後の観測点の三次元座標を独立して演算することによる誤差を少なくし、変位量の演算結果の精度を向上させる。【解決手段】変位計測方法は、前記変位前後の写真画像21,31,41,51は、計測対象10の変位の前後にわたって変位しない複数の固定点1〜5を含むように撮影し、変位前後のいずれか一方の複数の写真画像に共通して写っている基準点11に基づいて、当該写真画像の撮影位置関係12を演算し、前記固定点1〜5に基づいて変位前後の写真画像を射影変換して撮影位置関係を演算しない写真画像を撮影位置関係を演算した写真画像に投影した投影写真画像60,70を作成し、前記演算された撮影位置関係における前記投影写真画像に投影された変位前後の観測点15の座標をそれぞれ算出する各ステップを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
計測対象を、その変位前に異なる複数の撮影位置から撮影した複数の写真画像と、当該計測対象の変位後に変位前と略同じ撮影位置から撮影した複数の写真画像とからなる変位前後の写真画像を用いて当該計測対象の変位の有無を確認する方法において、 前記変位前後の写真画像は、計測対象の変位の前後にわたって変位しない複数の固定点を含むように撮影し、 前記固定点に基づいて変位前後の写真画像を射影変換して、一方の写真画像を他方の写真画像に投影することにより前記計測対象の変位の有無を確認する方法。
IPC (1)：
G01C11/06
FI (1)：
G01C11/06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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