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J-GLOBAL ID：200903035251895990

測距装置

Inventor：
野中 修

About 野中 修


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997120500
Publication number (International publication number)：1998311721
Application date： May. 12, 1997
Publication date： Nov. 24, 1998
Summary：
【要約】【課題】単純な方法で、被写体像を背景から分離して検出し、順光、逆光の条件によらず、対象物を正確に測距すること。【解決手段】この測距装置は、視差を有する2つの光路3a、3bを介して入射する被写体1の像をそれぞれ光電変換センサアレイ4a、4b上に結像させ、該光電変換センサアレイ4a、4bより出力される2像信号の相対的位置差を検知して被写体までの距離を求める。そして、光電変換センサアレイ4a、4bの出力信号に基いて、CPU6の対象物検出部7にて、光電変換センサアレイ4a、4bの全領域中のうち主要の被写体1が占める主要領域が決定される。また、対象物検出部7による光電変換センサアレイ4a、4bの主要領域の出力信号に基いて、相関演算部8で相対的位置差が演算される。
Claim (excerpt)：
視差を有する2つの光路を介して入射する被写体像をそれぞれ光電変換素子センサアレイ上に結像させ、該光電変換素子センサアレイより出力される2像信号の相対的位置差を検知して被写体までの距離を求める測距装置に於いて、上記センサアレイの出力信号に基いて、上記センサアレイの全領域中のうち主要被写体が占めるセンサアレイの主要領域を決定する対象物決定手段と、上記対象物決定手段による上記センサアレイの主要領域の出力信号に基いて、上記相対的位置差を演算する演算手段とを具備することを特徴とする測距装置。
IPC (4)：
G01C 3/06 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/30 ,  G03B 13/36
FI (4)：
G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • 測距装置および測距方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-255848   Applicant：富士フイルムマイクロデバイス株式会社, 富士写真フイルム株式会社
  • 焦点検出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-065089   Applicant：株式会社ニコン
  • 特開平3-152518

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