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J-GLOBAL ID：200903035384486332

レーザ顕微鏡

Inventor： 佐々木 浩 ,  島田 佳弘
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000333782
Publication number (International publication number)：2002139675
Application date： Oct. 31, 2000
Publication date： May. 17, 2002
Summary：

【要約】【課題】標本に照射する複数の波長のレーザ光強度を同時に安定に制御する。【解決手段】ビームスプリッタ21により波長λ1=488nmとλ2=514.5nmとの2波長のレーザ光の一部を取り出し、プリズム22によりこれら波長λ1=488nmとλ2=514.5nmとの2波長のレーザ光をスペクトル分解し、このスペクトル分解された2ラインの強度を2分割フォトダイオード23により検出し、制御器24により2分割フォトダイオード23から出力される検出信号に基づいて波長λ1=488nmとλ2=514.5nmとの両方のラインの光強度がそれぞれ一定になるように、アルゴンレーザ2の出力端に固定されたAOTF25を制御する。

Claim (excerpt)：

複数の発振波長からなるレーザ光を対物レンズを通して標本に照射し、この標本からの蛍光を検出するレーザ顕微鏡において、複数の発振波長からなる前記レーザ光をスペクトル分解するスペクトル分解手段と、このスペクトル分解手段によりスペクトル分解されたレーザ光を受光する受光素子列と、この受光素子列の出力信号を受けて前記レーザ光を前記発振波長ごとに制御する制御手段と、を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。

IPC (2)：

G02B 21/06 ,  H01S 3/10

FI (2)：

G02B 21/06 ,  H01S 3/10 Z

F-Term (13)：

2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  5F072AA02 ,  5F072JJ05 ,  5F072KK05 ,  5F072KK15 ,  5F072RR03 ,  5F072YY20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 蛍光顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-251132   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (3)

• 蛍光顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-251132   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 対象物の照明方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-183692   Applicant：ライカマイクロシステムスハイデルベルクゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
• 照明装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-183694   Applicant：ライカマイクロシステムスハイデルベルクゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング