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J-GLOBAL ID:200903035451393387

封止剤、半導体等の封止方法、半導体装置の製造方法、および半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 安富 康男 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000394823
Publication number (International publication number):2002194215
Application date: Dec. 26, 2000
Publication date: Jul. 10, 2002
Summary:
【要約】【課題】 低吸湿性であって信頼性が高く、低粘度、速硬化性であり実用性の高く、かつ低誘電率、低誘電正接であって高周波特性に優れた封止剤を提供すること。また、高信頼性、高実用性、高周波数特性を有する電子部品、電気回路、電気接点あるいは半導体の封止方法、および、半導体装置の製造方法を提供すること。さらに、高信頼性、高実用性、高周波数特性を有する半導体装置を提供すること。【解決手段】 SiH基と反応性を有する炭素-炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個含有する有機化合物、(B)1分子中に少なくとも2個のSiH基を含有するケイ素化合物、および(C)ヒドロシリル化触媒、を必須成分として含有する封止剤。
Claim (excerpt):
(A)SiH基と反応性を有する炭素-炭素二重結合を1分子中に少なくとも2個含有する有機化合物、(B)1分子中に少なくとも2個のSiH基を含有するケイ素化合物、および(C)ヒドロシリル化触媒、を必須成分として含有することを特徴とする封止剤。
IPC (4):
C08L 83/05 ,  C09K 3/10 ,  H01L 23/29 ,  H01L 23/31
FI (4):
C08L 83/05 ,  C09K 3/10 G ,  C09K 3/10 Z ,  H01L 23/30 R
F-Term (17):
4H017AA04 ,  4H017AB16 ,  4H017AC19 ,  4H017AD06 ,  4H017AE05 ,  4J002CP04X ,  4J002GQ05 ,  4M109AA01 ,  4M109CA04 ,  4M109CA07 ,  4M109CA12 ,  4M109CA21 ,  4M109CA26 ,  4M109EA20 ,  4M109EC01 ,  4M109EC05 ,  4M109EC20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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