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J-GLOBAL ID：200903035708881027

分析デバイス及び分析装置

Inventor：
福田 智恵

About 福田 智恵


Applicant, Patent owner：
住友電気工業株式会社

About 住友電気工業株式会社


Agent (3)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  柴田 昌聰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005118816
Publication number (International publication number)：2006300564
Application date： Apr. 15, 2005
Publication date： Nov. 02, 2006
Summary：
【課題】 試料に光を照射する時に良好な照射位置精度が得られる分析デバイス及び分析装置を提供する。【解決手段】 分析装置10は、試料aが収容される溝2と、溝2に光学的に結合された一端4aと他端4bとを有する光導波路4と、溝2を介して光導波路4の一端4aに光学的に結合された一端6aと他端6bとを有する光導波路6とを有する基板8を備える。光導波路4の他端4bには、光源12が光学的に結合されている。光導波路6の他端6bには、光検出器14が光学的に結合されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料が収容される溝と、前記溝に光学的に結合された一端と他端とを有する第1の光導波路と、前記溝を介して前記第1の光導波路の前記一端に光学的に結合された一端と他端とを有する第2の光導波路と、を有する基板を備える、分析デバイス。
IPC (3)：
G01N 21/01 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/27
FI (4)：
G01N21/01 Z ,  G01N21/01 B ,  G01N21/03 Z ,  G01N21/27 Z
F-Term (45)：
2G043CA01 ,  2G043CA03 ,  2G043CA06 ,  2G043CA07 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043EA13 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G057AA01 ,  2G057AA02 ,  2G057AA04 ,  2G057AB04 ,  2G057AC01 ,  2G057AC03 ,  2G057AC05 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB02 ,  2G057DB03 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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