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J-GLOBAL ID：200903035733126616

分析方法及びキット

Inventor：
川田 学

About 川田 学

, 
石森 義雄

About 石森 義雄


Applicant, Patent owner：
東芝ケミカル株式会社

About 東芝ケミカル株式会社

, 
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998232002
Publication number (International publication number)：2000065835
Application date： Aug. 18, 1998
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：
【要約】【課題】 高感度な分析が簡便かつ安全に短時間で行える分析方法及び分析キットを提供すること。【解決手段】 被検物質を、この被検物質と特異的に結合し得る第1の物質を配置した部位に濃縮しつつ移行させる第1の濃縮・移行工程と、この被検物質と第1の物質を結合させ、結合体を得る結合工程と、次いでこの結合体をあらかじめ検出手段を配置した検出部位に移行させる第2の濃縮・移行工程と、この検出部位において結合体を検出する検出工程とを有する分析方法、および、被検物質を濃縮しつつ移行させる部材と、この部材に配置された、被検物質と特異的に結合し得る第1の物質とを有する分析キット。
Claim (excerpt)：
被検物質を、この被検物質と特異的に結合し得る第1の物質を所定の部位に配置した媒質に接触させる接触工程と、前記媒質において、前記被検物質を前記所定の部位に濃縮しつつ移行させる被検物質の濃縮・移行工程と、前記被検物質と前記第1の物質を前記所定の部位において結合させ結合体を得る結合工程と、次いで前記結合体をあらかじめ検出手段を配置した前記媒質における検出部位に移行させる結合体の濃縮・移行工程と、前記検出部位において前記結合体を検出する検出工程とを有することを特徴とする分析方法。
IPC (4)：
G01N 33/543 593 ,  G01N 27/22 ,  G01N 33/544 ,  G01N 33/566
FI (4)：
G01N 33/543 593 ,  G01N 27/22 Z ,  G01N 33/544 ,  G01N 33/566
F-Term (9)：
2G060AA15 ,  2G060AA20 ,  2G060AD08 ,  2G060AE20 ,  2G060AF10 ,  2G060AG08 ,  2G060AG11 ,  2G060GA04 ,  2G060KA10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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