Pat
J-GLOBAL ID：200903035883239281
質量分析データ解析システム,質量分析データ解析プログラム及び化合物解析システム
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003035928
Publication number (International publication number)：2004245699
Application date： Feb. 14, 2003
Publication date： Sep. 02, 2004
Summary：
【課題】本発明の目的は、親イオンを多段階解離して質量分析する際、データベースが存在しない多段階解離質量分析データ(MSn (n≧3)データ)から推測される親イオン構造に対し、親イオン,解離イオンの構造を高精度に導出・表示する。【解決手段】本発明では、予め推測された親イオン,各解離段階での前駆イオンの構造に対して、分子軌道解析、及び、分子力学計算を行うことにより、親イオン,各解離段階での前駆イオンの構造を高精度に導出・表示する。【効果】本発明の上記手段により、熱的,化学的,エネルギー的な特性からの親イオン、及び、各解離段階での前駆イオンの構造を評価できる為、データベースの無い多段階解離による質量分析データからも、非常に高精度に親イオン構造を導出・評価することが可能となる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
親イオン、及び親イオンを解離した解離イオンの質量分析データが入力される手段と、
各解離段階で解離前の構造である前駆イオンの推定構造候補に基づいて前記前駆イオンの推定構造候補の特性を導出する手段と、
導出された前記前駆イオンの推定構造の特性と前記質量分析データに基づいて各解離段階での前駆イオン又は親イオンの構造を評価することを特徴とする質量分析データ解析システム。
IPC (1)：
FI (3)：
G01N27/62 B
, G01N27/62 K
, G01N27/62 L
