化合物構造解析システム,質量分析データ解析方法,質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：作田康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002356120
Publication number (International publication number)：2004191077
Application date： Dec. 09, 2002
Publication date： Jul. 08, 2004
Summary：

【課題】本発明の目的は、未知構造物質にも対応可能で、高精度に親イオンの同定、あるいは親イオンの構造を推定する事にある。【解決手段】MSn に関して、質量分析データ1から推測される親イオン構造に対し、MS装置内の親イオン,解離イオンの衝突エネルギー計算に加え、分子軌道解析及び分子力学計算を行うことにより、親イオン,解離イオンの構造を高精度に導出・表示する。【効果】上記手段により、熱的,化学的,エネルギー的な特性からの親イオン及び解離イオンの構造を評価できる為、質量分析データから、非常に高精度に親イオン構造を導出・評価することが可能となる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

解析対象イオンに関する質量分析データの計測値を入力する入力手段と、前記解析対象イオンに対する解離イオンの質量分析データの計測値を入力する入力手段と、前記解析対象イオンに対する複数のイオン構造候補に関する質量分析データを保存するデータ保存手段と、前記イオン構造候補に対する解離イオンに関する質量分析データの計算値を計算により導出する計算手段と、前記解析対象イオンに関する質量分析データの計測値及び前記解析対象イオンに関する解離イオンの質量分析データの計測値と前記データ保存手段により保存されたイオン構造候補に関する質量分析データ及び前記計算手段により導出された解離イオンに関する質量分析データの計算値とを照合することによりイオン構造候補を評価する構造候補評価手段とを備えることを特徴とする質量分析データ解析装置。

IPC (5)：

G01N27/62 , G01N33/483 , G01N33/68 , H01J49/40 , H01J49/42

FI (7)：

G01N27/62 D , G01N27/62 L , G01N27/62 V , G01N33/483 A , G01N33/68 , H01J49/40 , H01J49/42

F-Term (6)：

2G045DA36 , 2G045DA44 , 2G045FA36 , 2G045JA01 , 5C038JJ06 , 5C038JJ11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

質量分析法によるヌクレオチド、アミノ酸又は炭水化物の同定
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平7-524157 Applicant：ユニバーシティオブワシントン
金属接合方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-368006 Applicant：株式会社デンソー
Si-F結合を有するSiO2膜の成膜方法および半導体装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-234920 Applicant：株式会社日立製作所

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