Pat
J-GLOBAL ID:200903036301104677
打音解析による健全性診断方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
和泉 久志
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007205266
Publication number (International publication number):2009041978
Application date: Aug. 07, 2007
Publication date: Feb. 26, 2009
Summary:
【課題】自己回帰モデルを利用することにより、対象物の健全性を客観的かつ定量的に評価する診断方法を確立する。【解決手段】健全性診断の対象となる診断対象物内部の欠陥を非破壊で診断するための診断方法であって、予め、前記診断対象物にハンマで打撃を加え、この打撃点近傍に設置したマイクロホンで打音信号の時系列データを計測し、自己回帰モデルによる解析によって自己回帰係数を求めておき、前記診断対象物の健全性診断を行う診断部位をハンマで打撃し、この打撃点近傍に設置したマイクロホンで打音信号の時系列データを計測した実測値と、前記自己回帰係数を適用して当該診断部位における打音信号の時系列データを予測した予測値との差である残差を求めるとともに、この残差の大きさに基づいて内部欠陥の有無を判別する。【選択図】図3
Claim (excerpt):
健全性診断の対象となる診断対象物内部の欠陥を非破壊で診断するための診断方法であって、
予め、前記診断対象物にハンマで打撃を加え、この打撃点近傍に設置したマイクロホンで打音信号の時系列データを計測し、自己回帰モデルによる解析によって自己回帰係数を求めておき、
前記診断対象物の健全性診断を行う診断部位をハンマで打撃し、この打撃点近傍に設置したマイクロホンで打音信号の時系列データを計測した実測値と、前記自己回帰係数を適用して当該診断部位における打音信号の時系列データを予測した予測値との差である残差を求めるとともに、この残差の大きさに基づいて内部欠陥の有無を判別することを特徴とする打音解析による健全性診断方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (13):
2G047AA10
, 2G047AC05
, 2G047BA04
, 2G047BC04
, 2G047BC07
, 2G047CA03
, 2G047EA10
, 2G047EA11
, 2G047GD02
, 2G047GG20
, 2G047GG33
, 2G047GG36
, 2G047GG47
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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コンクリートの剥離診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-058039
Applicant:株式会社熊谷組
-
コンクリート構造物の脆弱部研掃探査方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-150575
Applicant:社団法人日本建設機械化協会
-
コンクリート打音検査方法、及びコンクリート打音検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-231938
Applicant:財団法人鉄道総合技術研究所
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異常検出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-138681
Applicant:北海道大学長, 興亜石油株式会社
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固体内部の振動検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-031690
Applicant:株式会社光電製作所
-
特開平3-235027
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Cited by examiner (4)
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コンクリートの剥離診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-058039
Applicant:株式会社熊谷組
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異常検出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-138681
Applicant:北海道大学長, 興亜石油株式会社
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固体内部の振動検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-031690
Applicant:株式会社光電製作所
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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