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J-GLOBAL ID：200903036331942448

スペクトラム同時測定装置

Inventor：
千葉 典史

About 千葉 典史


Applicant, Patent owner：
株式会社アドバンテスト

About 株式会社アドバンテスト


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999060402
Publication number (International publication number)：2000258477
Application date： Mar. 08, 1999
Publication date： Sep. 22, 2000
Summary：
【要約】【課題】同一タイミングでスペクトラムを測定可能なスペクトラム測定装置を提供する。【解決手段】被測定信号である入力信号のスペクトラムを測定するスペクトラム同時測定装置において、被測定信号を受けて所定帯域幅のスペクトラム信号を通過出力する帯域フィルタを複数Nチャンネル具備し、Nチャンネルの帯域フィルタから通過出力する同一タイミングの信号を受けて各々量子化する量子化手段を複数Nチャンネル具備するスペクトラム同時測定装置。
Claim (excerpt)：
被測定信号である入力信号のスペクトラムを測定するスペクトラム同時測定装置において、該被測定信号を受けて所定帯域幅のスペクトラム信号を通過出力する帯域フィルタを複数Nチャンネルと、該Nチャンネルの帯域フィルタから通過出力する同一タイミングの信号を受けて各々量子化する量子化手段を複数Nチャンネルと、を具備していることを特徴とするスペクトラム同時測定装置。
IPC (2)：
G01R 23/165 ,  G01J 3/51
FI (2)：
G01R 23/165 B ,  G01J 3/51
F-Term (8)：
2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CB45 ,  2G020CC28 ,  2G020CD06 ,  2G020CD22 ,  2G020CD34 ,  2G020CD51
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • 電波監視装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-201291   Applicant：ソニー・テクトロニクス株式会社
  • 分光測色装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-113212   Applicant：三菱重工業株式会社
  • 瞬時周波数計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-189056   Applicant：日本電気株式会社

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