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J-GLOBAL ID:200903036431083086

擬似三次元画像における三次元量計測方法及びその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西山 春之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997011207
Publication number (International publication number):1998201755
Application date: Jan. 24, 1997
Publication date: Aug. 04, 1998
Summary:
【要約】【課題】 ボリュームレンダリング法を用いて再構成した擬似三次元画像における三次元量計測方法において、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測する。【解決手段】 被検体の対象部位について擬似三次元画像を再構成するのに先立って上記再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を予め設定しておき、上記被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成し、この再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を決定し、この表面位置を用いて三次元座標的な量を計測するものである。
Claim (excerpt):
被検体の対象部位について擬似三次元画像を再構成するのに先立って上記再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を予め設定しておき、上記被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成し、この再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を決定し、この表面位置を用いて三次元座標的な量を計測することを特徴とする擬似三次元画像における三次元量計測方法。
IPC (4):
A61B 6/03 360 ,  A61B 5/055 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/60
FI (4):
A61B 6/03 360 G ,  A61B 5/05 380 ,  G06F 15/62 390 B ,  G06F 15/70 350 L
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 三次元画像情報提示方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-002754   Applicant:株式会社日立製作所
  • 画像表示装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-060829   Applicant:株式会社東芝
  • 特開昭63-063433
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