Pat
J-GLOBAL ID：200903036599238727

パターン識別装置及びその制御方法、異常パターン検出装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体

Inventor：
御手洗 裕輔

About 御手洗 裕輔

, 
真継 優和

About 真継 優和


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (6)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008101833
Publication number (International publication number)：2008282391
Application date： Apr. 09, 2008
Publication date： Nov. 20, 2008
Summary：
【課題】 入力データの変動に対するロバスト性がさらに向上されたパターン認識技術を提供する。【解決手段】 パターン識別の対象となるデータが、予め定義された複数のクラスのいずれに属するかを識別するパターン識別装置であって、前記複数のクラスのそれぞれについて、特徴空間において該クラスに対応する多様体を近似する超平面への射影規則を記憶手段から読み出す読出手段と、識別対象データを入力する入力手段と、前記入力された識別対象データを、前記射影規則に基づいて、前記複数のクラスにそれぞれ対応する多様体を近似する超平面へ射影した射影結果を、各クラスについて算出する算出手段と、前記算出手段において算出された前記各クラスの射影結果に基づいて、前記識別対象データが前記複数のクラスのいずれに属するかを識別する識別手段と、を備える。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
パターン識別の対象となるデータが、予め定義された複数のクラスのいずれに属するかを識別するパターン識別装置であって、 前記複数のクラスのそれぞれについて、特徴空間において該クラスに対応する多様体を近似する超平面への射影規則を記憶手段から読み出す読出手段と、 識別対象データを入力する入力手段と、 前記入力された識別対象データを、前記射影規則に基づいて、前記複数のクラスにそれぞれ対応する多様体を近似する超平面へ射影した射影結果を、各クラスについて算出する算出手段と、 前記算出手段において算出された前記各クラスの射影結果に基づいて、前記識別対象データが前記複数のクラスのいずれに属するかを識別する識別手段と、 を備えることを特徴とするパターン識別装置。
IPC (2)：
G06T 7/00 ,  G06N 3/00
FI (2)：
G06T7/00 300F ,  G06N3/00 560A
F-Term (5)：
5L096FA26 ,  5L096FA28 ,  5L096FA66 ,  5L096JA11 ,  5L096JA24
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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